Aktuality

Ing. Tibor Ižák, Ph.D, postdoktorand, získal ocenění v soutěži o nejlepší prezentaci mladých výzkumníků (Best Young Researcher Contribution C...

Pracovníci Fyzikálního ústavu získali 1. místo na mezinárodní konferenci Nanocon 2016 v soutěži o nejlepší poster, když téma prezentovaného p...

Výzkumníci z Laboratoře diamantových a uhlíkových nanostruktur ve spolupráci s Elektrotechnickým ústavem Slovenské akademie věd v Bratislavě...

Zařízení pro epitaxi z molekulárních svazků umožnuje přípravu tenkovrstvých monokrystalických polovodičů typu III-V, zejména struktur na bázi GaAs, AlGaAs a feromagnetického polovodiče (Ga,Mn)As. Systém zahrnuje rovněž aparaturu pro alternativní přípravu tenkovrstvých struktur pomocí epitaxe z par organokovových sloučenin.

Dovoluje připravovat tenké vrstvy nano- krystalického diamantu a/nebo křemíku z chemických par v plazmatu pro využití v optoelektronice, nanoelektronice a v bioelektronických aplikacích. V laboratoři Diamantových vrstev a uhlíkových nano-struktur disponujeme dvěma unikátními depozičními systémy určenými pro technologii mikrovlnnou plazmou podpořená chemická depozice z par.

Umožňuje přípravu laterálních mikro- a nanonstruktur pomocí optické a elektronové litografie. Elektronová litografie má rozlišení jednotek nanometrů a v kombinaci s reaktivním iontovým leptáním dovoluje přípravu testovacích součástek a čipů různých tenkovrstvých materiálů s detaily o velikosti desítek nanometrů.

Objednat

 

Zahrnuje soubor pěti hrotových mikroskopů kombinovaných s dalšími technikami (mikrospektroskopie, elektrochemie) pro korelaci mikromorfologie a fyzikálních vlastností (složení, adheze, luminiscence, lokální elektronické vlastnosti atd.) s rozlišením v řádu jednotek nanometrů.

Zahrnuje in situ TEM Jeol 1200FX s urychlovacím napětím 120 kV určený pro dynamické experimenty (dvounáklonový tahový držák a jednonáklonový držák tah-ohřev) a analytický „field emission“ TEM s urychlovacím napětím 200 kV FEI Tecnai F20 X-Twin vybavený STEM-HAADF, EDS, Lorentzovskou mikroskopií a energiovým filtrem GIF.

Zahrnuje dvousvazkový „field emission“ mikroskop SEM-FIB FEI Quanta 3D FEG pro 3D charakterizaci a mikroobrábění vybavený analytickými detektory EBSD a EDS, dále GISy (Pt, W, SiO2, rozšířené leptání) a nanomanipulátorem, a rutinní SEM FEI Pheanom s jednoduchým ovládáním přes dotykovou obrazovku pro školící a výukové účely.